EOS防护技术培训

课程大纲：

第一部分：EOS及ESD基础知识

1. 前言及EOS的历史

2. 简介

3. 对EOS的传统看法

4. 工业委员会全球调查介绍

5. 什么是EOS

6. EOS的来源

      6.1 ESD

      6.2 电源

7. 什么是静电

8. 静电的产生原理（模拟试验机演示）

9. 什么是ESD

10. ESD与EOS的关系

11. EOS与ESD失效比较

12. EOS与ESD的常规区别

13. EOS主要类别

14. EOS 根本原因

15. EOS 根本原因诊断

16.案例 1：错误的 ESD 资格导致 EOS

17.案例2：EOS被误用

第二部分： EOS分析技术

1. 常用术语和定义

2. 工厂和现场的 EOS 损坏

3. 显示 EOS 损坏的故障的现场返回分析的动机

4. 瞬变

5. 用于收集 EOS 损坏数据的 EOS 调查

     5.1 调查表和描述 - 调查是如何进行的？

     5.2 EOS调查结果

     5.3 EOS 故障原因进行归类

     5.4 EOS 故障通常发生在哪里？

                        5.5其他报告的 EOS 原因

                        5.6诊断、降低 EOS 的重要性和故障报告

                        5.7最小化 EOS 问题的最有效方法是什么？

                        5.8报告的前 4 个 EOS 根本原因和置信度

6. EOS损坏的影响

7. 出现 EOS 损坏的产品的故障报告

8. EOS 根本原因

9. 无动力处理期间的 EOS 损坏

10. 动力处理期间的 EOS

      10.1热插拔相关

      10.2 系统级 ESD 相关 EOS

11. 案例3：热插拔导致EOS

                                   12.  案例 4：间歇性电池接地连接导致 EOS

13.  案例 5：由于地面偏移导致的 EOS

第三部分：电路EMI、EOS防护与静电敏感元器件ESD、EOS的防护设计

1. 微电子、电子电路的EMI、EOS问题

2. EMI、EOS涉及范围

2.1 EMI防护技术的主要内容

2.2 EOS防护技术的内容

3. EMI、EOS对电子系统设备的干扰与微电子元器件的损害

3.1 EMI对电子系统、微电子产生干扰和损害

3.2 EOS对微电子的损害

4. ESD、EOS失效分析技术

4.1 失效分析基本技术

4.2 现代失效分析技术

5. EOS对电子系统、微电子元器件损害的防护

5.1 电气设备漏电及微电子电路过载的防护

5..2 电气系统、设备产生漏电原因及部位

5..3 漏电源的修复

6. 电子系统EMI的防护与抑制

6.1 电感性负载的瞬态浪涌抑制

6.2 电源电路的干扰抑制

6.3 电路合理布局减小EMI影响

6.4 电子系统接地EMI的抑制

7. 金属件接地的搭接

7.1 搭接的类型

7.2 搭接技术原则

8.  案例 6：EOS 案例研究“汽车爆震传感器”

9.  案例 7：EMI – 瞬态浪涌

10. SSD产品的ESD、EOS防护设计

10.1 SSD器件静电敏感度与其设计结构的关系

10.2 常用的静电放电保护器件

10.3 SSD器件防静电保护网络设计时需注意的问题

10.4 采用SSD的混合集成电路的保护电路设计注意事项

10.5 SSD组件保护电路设计的注意事项

10.6 电子SSD产品的防ESD、EOS增强设计

10.7 常用的几种保护电路

10.8 HCMOS（高速CMOS）输入端的保护结构

11. 案例 8：EMI – 电路板设计

12. 导线、电缆传输线EMI、ESD耦合抑制

12.1 双股绞合线

12.2 屏蔽线

12.3 配线方法

第四部分： EOS 案例分析

4.1 案例 9：电源电容器切换

4.2 案例 10：DSP IC 中的 CBE

4.3案例11：可靠性测试

4.4得到教训

4.5 EOS监控清单

第五部分：课堂练习

5.1. ESD/EOS问题点详解

5.2. 异常图片大家来找茬

第六部分：答疑

6.1 EOS相关疑难问题点解答

6.2. 常见问题答疑